电磁辐射强度测量系统，仿真无误（源码、设计报告、整个设计进程讲解）_电路方案

电磁辐射强度测量系统，仿真无误（源码、设计报告、整个设计进程讲解）

2016/11/30

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基于FPGA的电磁辐射强度测量系统设计，FPGA使用的一个s3c500e的开发板，还需要几个外围模块。

具体介绍，详见附件内容。

电源模块：利用两个稳压管产生±5V的电压。
AD转换模块：TLC549串行adc。
滤波模块：有源低通滤波。
放大模块：第一级采用共模抑制比高、线性度好、低功耗运算放大器 AD620，第二级采用高精度、低失调电压型的运放OP07。这两级的放大能满足低噪放大器的噪声系数要求，频带要宽的要求。

ad转换verilog程序编写。选用的ad利器是tlc549。 8bit串行ad转换器，最大转换时间17us。除了写ad的读写控制程序，还写了tlc549的简化虚拟模型，modelsim下仿真无误。

LCD采用1602,双行显示，第一行是功率密度，单位uw/cm2，显示宽度4位；第二行是场强，单位v/m，显示宽度3位。
开发板上测试通过，数据是自定义的。原理和verilog程序见附件。

视频演示：

器件型号	数量	器件厂商	器件描述	参考价格	更多信息
XC6SLX16-3CSG225I	1	AMD Xilinx	Field Programmable Gate Array, 1139 CLBs, 862MHz, 14579-Cell, CMOS, PBGA225, 13 X 13 MM, 0.80 MM PITCH, LEAD FREE, BGA-225	$286.32	查看
EP4CE40F23C7N	1	Altera Corporation	Field Programmable Gate Array, 2475 CLBs, 472.5MHz, 39600-Cell, PBGA484, 23 X 23 MM, 1 MM PITCH, LEAD FREE, FBGA-484	$640.28	查看
XC7A200T-3FFG1156E	1	AMD Xilinx	Field Programmable Gate Array, 16825 CLBs, 1412MHz, 215360-Cell, CMOS, PBGA1156, FBGA-1156	$527.73	查看

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XC6SLX16-3CSG225I

AMD Xilinx

Field Programmable Gate Array, 1139 CLBs, 862MHz, 14579-Cell, CMOS, PBGA225, 13 X 13 MM, 0.80 MM PITCH, LEAD FREE, BGA-225