74系列数字集成芯片测试仪（程序、参考电路等）

一、任务

设计制作一个集成电路芯片测试仪，能对常用的74系列逻辑芯片进行逻辑功能测试，以确定芯片的好坏和型号。

二、要求

1.基本要求

（1）通过键盘输入型号，可以对74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十种组合逻辑芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性；

（2）通过键盘输入管腿特性，可以确定上述74系列的组合逻辑芯片的型号；

（3）显示上述芯片的逻辑符号和逻辑表达式。

2.发挥部分

将上述三项基本要求扩展到74系列时序电路：74/109/160/245等。

（1）通过键盘输入型号，可以对74系列的74/109/160/245等芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性；

（2）通过键盘输入管腿特性，可以确定上述74系列时序逻辑芯片的型号；

（3）显示上述芯片的逻辑符号和状态转换图；

（4）其它特色与创新。

74系列的数字集成芯片测试仪程序源码截图：

代码说明：可以测试大多数74系列芯片，12864显示，可以测试芯片通道好坏情况，在自己的开发板上调试通过，有注释